Keithley Days 2018

~評価効率の改善とテスト・コストの削減~

テクトロニクス セミナ・ルーム

2018/08/02(木) ~ 2018/08/03(金)

【完全招待制】

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テクロトニクス/ケースレーインスツルメンツでは、来る8月2日(木)、8月3日(金)の2日間、品川本社にて「Keithley Days 2018 ~評価効率の改善とテスト・コストの低減~」を開催いたします。 Keithley Days 2018ではご招待企業様を限定し、材料、デバイス評価、部品測定からパラメトリック・テスタまで、最新の技術課題にフォーカスし、計測トレンドやソリューション、活用事例を多数ご紹介します。また今回は米国本社よりケースレーのシステム製品を統括するMark Cejerが来日し、パラメトリック・テストの最新情報を解説します。会場内では展示・デモンストレーション・コーナもご用意しています。 皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。

About 概要

タイトル Keithley Days 2018
~評価効率の改善とテスト・コストの削減~
【参加費無料・完全招待制】
開催日時 2018/08/02(木) ~ 2018/08/03(金)
 
会場 テクトロニクス セミナ・ルーム
品川インターシティB棟 6階
JR品川駅 港南口からのアクセス
主催社 テクトロニクス/ケースレーインスツルメンツ

Timetable タイムテーブル

対象者:このような方に最適です。
第1部(9:45-12:45): 材料、デバイス評価、部品測定などに従事される研究/開発エンジニアの方
- 複雑化するデバイス評価の最新情報やノウハウが知りたい -
- デバイス特性評価の作業効率を高めたい -
- 現在の測定・評価に課題を感じている -

第2部(13:45-14:35): テスト・システムに興味があるエンジニアの方
- パラメトリック・テスト・システム導入を検討中 -
- 研究開発、試作段階で特性評価システムを構築したい -
- 信頼性試験システムを構築したい -
- テストのスループットを改善したい、課題を持っている -
※タイムテーブル内の各セッション名をクリックすると詳細情報がご覧いただけます。

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